1、A 成分像能反映成分分布信息，形貌像和二次电子像反映形貌信息B 所有扫描电镜像，只能反映形貌信息；C 形貌像中凸尖和台阶边缘处最亮，平坦和凹谷处最暗；D 扫描电镜分辨率比透射电镜高。5差热分析中，掺比物的要求是（ ABC）A 在整个测温范围内无热效应；B 比热和导热性能与试样接近；C 常用1520煅烧的高纯-Al2O3 粉D 无任何要求。三、简述题1、简述布拉格方程及其意义。 推导：反射线光程差&=CB=CD=2dsin ,干涉一致加强的条件&=n ，则 2dsin =n。（反射线空间方位，d反射晶面间距，波长）。布拉格方程描述了“选择反射（selective reflection）”的规律，
2、产生“选择反射”的方向是 各原子面反射线干涉一致加强的方向，即满足布拉格方程。2、在研究纯铁时，为什么要选用钴靶（Cobalt target）或铁靶（Iron target），而不能用镍靶（Nickel target）和铜靶（Copper target）？已知铁的k 0.17429nm，钴钯的K波长0.17902nm，铜靶的K波长0.154nm，镍靶的K波长0.1659nm因为铁的k 0.17429nm，而由钴靶产生的K波长为0.17902nm，这样由钴靶产生的X射线不能激发铁的K系荧光，同样铁靶产生的X射线不能激发铁的K系荧光。由于钴靶的K波长非常靠近试样铁的k ，所以试样铁对钴靶K辐射的吸
3、收也最小。由镍靶和铜靶产生的K 波长分别为0.1659nm和0.154nm,小于铁的k。能激发试样铁的K系辐射，造成非常严重的非相干散射背景。3、电子衍射与X射线衍射有何异同相同点为：原理完全一样，都满足布拉格方程作为衍射基本条件，并且两种衍射技术所得到的衍射花样在几何特征上也大致相似。不同点为：1、电子波长比X射线短得多，角很小为0.01rad，X射线的衍射角较大，接近/2；2、电子衍射采用的薄晶样品，X射线常用粉晶法；3、电子衍射产生衍射斑点，分布在二维倒易截面内，直观反映晶体内部结构关系，得到较多信息；4、电子衍射束的强度较大，样品曝光、成像时间短。4、简述差热分析的原理。为何差热分析只
4、能做定性和半定量分析而差示扫描量热法能做定量分析？ （DSC与DTA不同）将两个反极性的热电偶串联起来，就构成了可用于测定两个热源之间的温度差的温差热电偶，将温差热电偶的一个热端插在试样中，另一个热端插在待测温度区间内不发生热效应的参比物中，试样和参比物同时升温，测定升温过程中两者温度差，就构成了差热分析的基本原理。 DTA中试样发生差热效应时，试样本身的升温速度是非线性的，发生热效应时，试样与参比物周围的环境有较大的温差，它们之间会进行热传递，降低热效应测量的灵敏度与精度，因此，到目前为止的大部分差热分析技术还不能进行定量分析工作，只能进行定性或半定量的分析工作。而DSC通过对试样因发生热效
5、应而发生的能量变化进行及时应有的补偿，保持试样与参比物之间的温度始终保持相同，无温差与热传递，使热损失小，检测信号大。所以，灵敏度和精度方面大有提高，因此，DSC能做定量分析。5、简述什么是拉曼散射和拉曼位移？请画出相应的示意图，并简要解释产生这种现象的原因。当光照射到物质上时会发生非弹性散射，散射光中除有与激发光波长相同的弹性成分（瑞利散射）外，还有比激发光波长长的和短的成分，后一现象统称为拉曼效应。由分子振动、固体中的光学声子等元激发与激发光相互作用产生的非弹性散射称为拉曼散射，一般把瑞利散射和拉曼散射合起来所形成的光谱称为拉曼光谱。斯托克斯线与反斯托克斯线与入射光频率之差成为拉曼位移。原
6、因：光子与分子碰撞后发生了能量交换，光子将一部分能量传递给样品分子或从样品分子获得一部分能量,因而改变了光的频率。6、用扫描电镜拍出得照片具有立体感强的特点，这是因为它具有大的景深（depth of field），请回答什么是景深？景深取决于哪几个因素？景深是指一个透镜对高低不平的试样各部位能同时聚焦成像的一个能力范围。它取决于分辨本领和电子束入射半角7、X射线与物质相互作用会产生哪些信号？相干的 coherent ；非相干的 incoherent；荧光x射线 Fluorescent X-ray；光电子 X-ray Photoelectron Spectroscopy;俄歇电子 Auger E
7、lectron Spectroscopy8、电子束和固体样品作用时会产生哪些信号？它们各具有什么特点？主要有六种：1）背散射电子（back scattering electrons,BE）:弹性背散射电子远比非弹性背散射电子所占的份额多；能量高；来自样品表面几百nm深度范围；其产额随原子序数增大而增多.用作形貌分析、成分分析以及结构分析。2）二次电子（secondary electrons,SE）:能量较低；来自表层510nm深度范围；对样品表面化状态十分敏感，因此能进行表面形貌分析；其产额与原子序数间没有明显的依赖关系，因此不能进行成分分析。3）吸收电子（absorption electro
8、ns,AE）:吸收电子信号调制成图像，其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电子的衬度互补。吸收电子能产生原子序数衬度，即可用来进行定性的微区成分分析.4）透射电子（transmisive electrons,TE）：透射电子信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进行微区成分分析。5）特征X射线（characteristic X ray）: 用特征值进行成分分析；来自样品较深的区域 。6）俄歇电子（Auger electrons,AuE）:各元素的俄歇电子能量值很低；来自样品表面12nm范围，它适合做表面分析。9、在电子显微分析中，电子的波长是由什么决定的？电子的波长与该因素的
9、关系怎样？关系式？在电子显微分析中，电子的波长是由电子加速电压决定的，电子的波长与其平方根成反比，德布罗意的波粒二象性关系式：E=h,P=h/可得 =h/P=h/mv带入数值可得 电子波长为=12.25/V （）10、差热曲线中，如何确定吸热（放热）峰的起点和终点？起点和终点各代表什么意义？用外推法确定吸热（放热）峰的起点和终点，其中外延始点用峰的起始边陡峭部分的切线和外延基线所得的交点，同理可以确定外延终点（基线：指DTA曲线上T近似等于0的区间；峰：指DTA曲线离开基线又回到基线的部分，包括放热峰和吸热峰）起点和终点代表起始和终止的温度。11、何为波谱仪和能谱仪？说明其工作的三种基本方式，
10、并比较波谱仪和能谱仪的优缺点。波谱仪：用来检测X射线的特征波长的仪器能谱仪：用来检测X射线的特征能量的仪器三种基本工作方式：定点元素全分析、线扫描分析、面扫描分析。优点:1）能谱仪探测X射线的效率高。2）能谱仪在同一时间对分析点内所有元素X射线光子的能量进行测定和计数，在几分钟内可得到定性分析结果，而波谱仪只能逐个测量每种元素特征波长。3）结构简单，稳定性和重现性都很好4）不必聚焦，对样品表面无特殊要求，适于粗糙表面分析。缺点：1）分辨率低.2）能谱仪只能分析原子序数大于11的元素；而波谱仪可测定原子序数从4到92间的所有元素。3）能谱仪的Si（Li）探头必须保持在低温态，因此必须时时用液氮冷
11、却。12、试述X射线衍射物相分析步骤？及其鉴定时应注意问题？步骤：（1）通过实验获取试样的衍射图谱（2）通过对所获得衍射图谱的分析和计算，获得各衍射物相的2、d及I值（3）使用I值最大的三个值对应的d，值去查PDF卡片号（4）若与PDF卡中物相参数基本吻合，可基本确定这组衍射峰所对应的物质注意问题：（1）低角度处的峰比高角度处的重要（2）只能初步确定物相（3）低值数据比强值数据重要13、扫描电镜的成像原理与透射电镜有何不同？两者完全不同。透射电镜用电子束为照明源，通过电子流对样品的透射或反射及电磁透镜的多级放大后在荧光屏上成像的。 而扫描电镜则是以类似电视机摄影显像的方式，利用细聚焦电子束在样
12、品表面扫描时激发出的各种物理信号来调制而成像的。14、请写出光学显微镜（OM）、XRD、扫描电镜（SEM）、透射电镜（TEM）、热重法（TGA）、差热分析（DTA）、差示扫描量热法（DSC）、原子力显微镜（AFM）和扫描隧道显微镜（STM）的英文全称。光学显微镜（OM） Optical MicroscopeX荧光衍射（XRD ）:X-ray Diffraction扫描电镜 （SEM ）:scanning electron microscope透射电子显微镜 （TEM） Transmission Electron Microscope,热重分析（TG或TGA） Thermogravimetry
13、Analysis差热分析（DTA） differential thermal analysis差示扫描量热法（DSC） Differential Scanning Calorimetry,原子力显微镜（AFM） Atomic Force Microscope扫描隧道显微镜（STM） Scanning Tunneling Microscope15、透射电子显微镜主要由几大系统构成？各系统之间是何关系？透射电子显微镜有哪些功能？在材料科学中有什么应用？照明系统、成像系统、图像观察和记录系统。电子光学系统是核心，电源系统、真空系统和操作控制系统都是辅助系统。功能：透射电镜有两大主要功能，即观察材料内
14、部组织形貌和进行电子衍射以了解选区的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征X射线探头、二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能。改变样品台可以实现高温、低温和拉伸状态下进行样品分析。应用：透射电子显微镜在材料科学研究中的应用非常广泛。可以进行材料组织形貌观察、研究材料的相变规律、探索晶体缺陷对材料性能的影响、分析材料失效原因、剖析材料成分、组成及经过的加工工艺等。16、红外光谱主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析？红外光谱法有什么特点？用于化学组成、分子结构分析、物相分析。应用领域：较多的应用于有机化学领域，对于无机化合物和矿物的鉴定开始较晚。 特点是：1、特征性高；2、不受样品物
15、理状态的限制。3、测定样品所需的样品量少。4、操作方便，测定速度快，重复性好。5、已有标准谱图多，便于查询。17、实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么？已知一个以Fe为主要成 分的样品，试选择合适的X射线管和合适的滤波片？实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射，应当避免使用比样品中主元素的原子序数大26（尤其是2）的材料作靶材的X射线管。选择滤波片的原则是X射线分析中，在X射线管与样品之间一个滤波片，以滤掉K线。滤波片的材料依靶的材料而定，一般采用比靶材的原子序数小1或2的材料。分析以铁为主的样品，应该选用Co或Fe靶的X射线管，它们的滤波片分别相应选择Fe和Mn为滤波片。18
16、、试述布拉格公式2dHKLsin=中各参数的含义，以及该公式有哪些应用？dHKL表示HKL晶面的面间间距，角表示掠过角或布拉格角，即入射X射线或衍射线与面间间的夹角，表示入射X射线的波长。 该公式有二个方面用途：（1）已知晶体的d值。通过测量，求特征X射线的，并通过判断产生特征X射线的元素。这主要应用于X射线荧光光谱仪和电子探针中。（2）已知入射X射线的波长， 通过测量，求晶面间距。并通过晶面间距，测定晶体结构或进行物相分析。19、请导出电子衍射的基本公式，解释其物理意义，并阐述倒易点阵与电子衍射图之间有何对应关系?R/L=/d 详见公式：书本P145在0O附近的低指数倒易阵点附近范围，反射球
17、面十分接近一个平面，且衍射角度非常小 10，这样反射球与倒易阵点相截是一个二维倒易平面。这些低指数倒易阵点落在反射球面上，产生相应的衍射束。 因此，电子衍射图是二维倒易截面在平面上的投影。20、若X射线管的额定功率为1.5kW，在管电压为35kV时，容许的最大电流是多少？公式：P=UI21、X射线的本质是什么？是谁首先发现了X射线？X射线的本质是一种横电磁波？伦琴首先发现了X射线，劳厄揭示了X射线的本质22、比较物相定量分析的外标法、内标法、K值法、直接比较法和全谱拟合法的优缺点？1外标法就是待测物相的纯物质作为标样以不同的质量比例另外进行标定，并作曲线图。外标法适合于特定两相混合物的定量分析
18、，尤其是同质多相（同素异构体）混合物的定量分析。2内标法是在待测试样中掺入一定量试样中没有的纯物质作为标准进行定量分析，其目的是为了消除基体效应。内标法最大的特点是通过加入内标来消除基体效应的影响，它的原理简单，容易理解。但它也是要作标准曲线，在实践起来有一定的困难。3K值法是内标法延伸。K值法同样要在样品中加入标准物质作为内标，人们经常也称之为清洗剂。K值法不作标准曲线，而是选用刚玉Al2O3作为标准物质，并在JCPDS卡片中，进行参比强度比较，K值法是一种较常用的定量分析方法。4直接比较法通过将待测相与试样中存在的另一个相的衍射峰进行对比，求得其含量的。直接法好处在于它不要纯物质作标准曲线
19、，也不要标准物质，它适合于金属样品的定量测量。以上四种方法都可能存在因择优取向造成强度问题。5 、Rietveld全谱拟合定量分析方法。通过计算机对试样图谱每个衍射峰的形状和宽度，进行函数模拟。可避免择优取向，获得高分辨高准确的数字粉末衍射图谱.不足之处是：必须配有相应软件的衍射仪。23、X射线产生的条件：1.产生自由电子；2.使电子作定向的高速运动；3在其运动的路径上设置一个障碍物使电子突然减速或停止。24、影响分辨率主要因素分辨率大小由入射电子束直径和调制信号类型决定；电子束直径越小，分辨率越高。用于成像的物理信号不同，分辨率不同。25、相对于光学显微镜和透射电子显微镜，扫描电镜各有哪些优
20、点？（1） 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm80mm50mm。（2） 样品制备过程简单，不用切成薄片。（3） 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。（4） 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。（5） 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。（6） 电子束对样品的损伤与污染程度较小。（7） 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析.26、透射电子显微
21、镜的成像原理是什么？为什么必须小孔成像？成像原理：质厚和衍射衬度。为了确保透射电镜的分辨本领，物镜的孔径半角必须很小，即采用小孔径角成像。一般是在物镜的背焦平面上放一称为物镜光阑的小孔径的光阑来达到这个目的。透镜的分辨本领除了与衍射效应有关以外，还与透镜的像差有关（球差）。球差范围内距高斯像平面3/4Zs处的散射圆斑的半径最小，只有Rs/4。习惯上称它为最小截面圆。在试样上相应的两个物点间距为：rs=Rs/M=Cs3 （高斯平面） ， rs=1/4 Cs3 （最小截面圆所在平面）式中，Cs为电磁透镜的球差系数，为电磁透镜的孔径半角。rs或rs与球差系数Cs成正比，与孔径半角的立方成正比，随着的
22、增大，分辨本领也急剧地下降。 所以选择小孔径成像。四、计算题1、什么厚度的镍滤波片可将CuK辐射的强度降低至入射时的70？ 如果入射X射线束中K和K强度之比是5：1，滤波后的强度比是多少？已知m=49.03cm2/g, m=290cm2/g, Ni=8.9g/cm3。解：有公式I=I0e-umm =I0e-ut查表得：=8.90g/cm3 um=49.03cm2/g因为 I=I0*70%-umt=0.7解得 t=0.008mm所以滤波片的厚度为0.008mm又因为： I=50e-mt=0e-mt带入数据解得I /=28.8滤波之后的强度之比为29：13、试计算用50千伏操作时，X射线管所发射的
23、X射线短波限为多少？0 = hc /（ ev ）4、计算当管电压为50kV时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和所发射连续谱的短波限和辐射光子的最大动能。已知：电子静止质量，me=9.110-31kg；光速：c=2.998108m/s；电子电荷：e=1.60210-19C；普朗克常数：h=6.62610-34Js。已知条件：U=50kv；电子静止质量：m0=9.1 光速：电子电量：10-34J.s电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为E=eU=1.60210-19C50kv=8.0110-18kJ由于E=1/2m0v02所以电子与靶碰撞时的速度为：v0=（2E/m0
24、）1/2=4.2106m/s所发射连续谱的短波限0的大小仅取决于加速电压0（）12400/v（伏） 0.248辐射出来的光子的最大动能为： E0h0hc/08.0110-15J5、欲使钼靶X射线管发射的X射线能激发放置在光束中的铜样品发射K系荧光辐射，问需的最低的管电压值是多少？所发射的荧光辐射波长是多少？已知电子电荷：10-34Js；108m/s，钼靶X射线管发射的X射线的波长=0.71nm。eVk=hc/Vk=6.62610-342.998108/（1.60210-190.7110-10）=17.46（kv）0=1.24/v（nm）=1.24/17.46（nm）=0.071（nm）其中 h
25、为普郎克常数，其值等于6.62610-34e为电子电荷，等于1.60210-19c故需加的最低管电压应17.46（kv），所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。6、2dsin =n 根据公式d（110）=0.2027nm,d（200）=0.1433nm由2dsin =n得：sin（110） =0，5651，sin（200） =0.79934所以（110） =34.4o, （200） =57.07o7、CuK射线（=0.154nm）照射Cu样品。已知Cu的点阵常数a=0.361nm，试用布拉格方程求解其（200）反射的角。8、NaCl的立方晶胞参数a=0.562nm，求d（200），d（220）
26、。以CuK（=0.154nm）射线照射NaCl表面，当2=31.7o和2=45.5o时记录到反射线，这两个角度之间未记录到反射线，解释这种现象发生的原因答：（1）NaCl为立方晶胞，根据晶面间距公式可知：d（200）=5.62/2=2.81；d（220）=5.62/2.828=1.99（2）根据布拉格方程：2dsin=，可知：当2=31.7时，d=2.81，与（200）面的d值接近，对应的是（200）面；当2=45.5时，d=1.65，与（220）面的d值接近，对应的是（220）面。（3）这两个角度之间未记录到反射线，可知（200）到（220）面之间没有衍射线，所以是选择反射的结果。翻译1、T
27、he main difference between the STM and the other microscope is that there is no need for lenses and special light or electron sources.Instead the bound electrons already existing in the sample under investigation serve as the exclusive source of radiation.STM和其他显微镜的主要区别是它不需要镜头和特殊的光源或是电子束。相反的，作为唯一辐射源的束缚电子已存在于待测样品中。2、STM原理：STM is based on the control of the tunneling current I through the potential barrier between the surface to be investigated and the probing metal tip.If a small bias voltage V is applied between the sample surface and tip,a tunneling current I will flo
