Digitalmicrograph使用教程.docx
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Digitalmicrograph使用教程.docx
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Digitalmicrograph使用教程
1)打开图像,选择StandardTools中的魔术棒(如图)点击图像
2)拖动Histogram中的虚线,选择合适的灰度值
3)选择Analysis-Particles-FindParticles
4)选择Analysis-Particles-AnalyzeParticles
选中虚线方框,
个正方形
按住Alt健,在需要进行变换的区域拉出一
然后点击
Process,选择FFT即可,或者在画出上图中的红色方框后按Ctrl+F
这个软件还可以直接测量条纹间距,首先可以将图片放大(视条纹清
晰与否),放大工具使用红色区域中的工具,然后点击图片即可。
然后选中ROLTools中的第二个工具(虚线),上图中的第二个方框。
然后对着图中的标尺,从起点到末端拉一条直线,尽量与标尺一样长
短(见下图)。
之后选择Analyze菜单中的Calibrate,会弹出一个对话框,
将对话框中的数字改成
标尺的数字如10,Units中选择nm。
然后用刚才的虚线工具,画
一条与条纹尽量垂直的直线,
可以取10个或者20个条纹,取平均值。
直线的长度显示在Control面板中的L项。
Control面板可在Window
菜单中调取出来,调取出来后,该面板显示在软件的左下方。
可以取
10个或者20个条纹,取平均值。
h1k1l1)和晶面(h2k2l2)的面间距分别为d1、d2。
则二晶面的夹角
V为单胞体积)
立方晶系:
六方晶系:
正交晶系:
菱方晶系:
单斜晶系:
三斜晶系:
电子衍射谱的对称特征
二维点阵布拉维胞电子衍射谱的特征可能归属的晶系
立方、四方
六角、三角、立方
单斜、正交、四方
六角、菱形、立方
同上
所有晶系
利用
(1)式,立即得到:
hu+kv+lw=O品带定律所反映的正空间和倒空间的关系,可作如下说明I
(1)Cuvw]是正点阵矢笈,[hkD•是倒易矢量,二者正交。
(2)〔tivw〕是正点阵矢量,(hid)是正点阵平面,二者平行.(3)(uvw)"是倒易点阵平面,ChkD•是倒易失员,二者平行。
弄清这些关系是十分重要的。
品带定律应用,<1)已知〈*kJ。
、同属一晶带,则一轴的指数是8
'u=kih-ksliv=lihi-lshiw=hiki-hzki
Cuvw^=Chik|10xCbikih3uvw
h,八h八h八h,
<2)仿此可求两相交平面的交武方向。
(3)如果一个晶面同属于两个晶带,则当两晶轴已知时,该晶面指数可求。
设两晶带轴方向指数为〔Un】〕、CuiYiWiJ,则晶面(hkD应满足。
/hui+kvi+lwi=0\huz+kv*+lws=0
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