电子技术实验半导体器件的测试实验.docx
- 文档编号:14630774
- 上传时间:2023-06-25
- 格式:DOCX
- 页数:22
- 大小:245.77KB
电子技术实验半导体器件的测试实验.docx
《电子技术实验半导体器件的测试实验.docx》由会员分享,可在线阅读,更多相关《电子技术实验半导体器件的测试实验.docx(22页珍藏版)》请在冰点文库上搜索。
电子技术实验半导体器件的测试实验
半导体器件的测试实验
实验组号____学号姓名
实验日期成绩_______指导教师签名
一、实验目的
学会用万用表测试二极管、三极管的性能好坏,管脚排列。
二、实验器材
1.万用表1只(指针式)。
2.二极管、三极管若干。
三、注意事项:
1.选择合适的量程,使万用表指针落在万用表刻度盘中间的位置为佳。
2.测试电阻前应先调零。
3.测量时不要同时用手接触元件的两个引脚。
4.测量完毕时应将万用表的转换开关转向off位置或交流最高电压档。
5.不能用万用表测试工作中的元件电阻!
四、实验内容
1.半导体二极管的测试
◆半导体二极管的测试要点:
用指针式万用表测二极管的正反向电阻,当测得阻值较小的情况下,黑笔所接的极是二极管的正极。
(1)整流二极管的测试
将万用表置于R100Ω或R1kΩ电阻档并调零,测量二极管的正、反向电阻,判断其极性和性能好坏,把测量结果填入表1中。
表1
型号
万用表档位
正向电阻
反向电阻
性能好坏
引脚图
1N4007
1100
1N4007
11kΩ
(2)发光二极管的测试
将万用表置于R10kΩ电阻档并调零,测量二极管的正、反向电阻,判断其极性和性能好坏,把测量结果填入表2中。
表2
型号
万用表档位
正向电阻
反向电阻
性能好坏
引脚图
110K
2.半导体三极管的测试
◆半导体三极管的测试要点:
将万用表置于R100Ω或R1kΩ电阻档并调零。
1首先判基极和管型
•黑笔固定某一极,红笔分别测另两极,当测得两个阻值均较小时,黑笔所接的极是基极,所测的晶体管是NPN管。
•红笔固定某一极,黑笔分别测另两极,当测得两个阻值均较小时,红笔所接的极是基极,所测的晶体管是PNP管。
2其次判集电极和发射极
•对于NPN管:
用手捏住基极和假设的集电极(两极不能短接),黑笔接假设的集电极,红笔接假设的发射极,观察所测电阻的大小。
然后将刚才假设的集电极和发射极对调位置,再重测一次,当测得电阻值较小时,黑笔所接的是集电极,另一电级是发射极
•对于PNP管:
用手捏住基极和假设的集电极(两极不能短接),红笔接假设的集电极,黑笔接假设的发射极,观察所测电阻的大小。
然后将刚才假设的集电极和发射极对调位置,再重测一次,当测得电阻值较小时,红笔所接的是集电极,另一电级是发射极。
(1)将万用表置于R100Ω或R1kΩ电阻档并调零,判别三极管的引脚排列、管型和性能好坏,把测量结果填入表3中。
(2)将万用表置于hfe档(×10Ω档并调零),测量三极管的β值,把测量结果填入表4中。
表3
型号
引脚图
管型
β
性能好坏
9012
9013
五、实验分析
1.用万用表的R100Ω或R1kΩ电阻档测量同一只二极管的正反向电阻值时,测量值为什么不同?
2.为什么不能用R1Ω或R10kΩ电阻档测量小功率晶体管?
单管电压放大电路实验
实验组号____学号姓名
实验日期成绩_______指导教师签名
一、实验目的
1.学会放大电路静态工作点的测量与调试方法;
2.学会用示波器及交流毫伏表测量放大电路的电压放大倍数的方法;
3.观察静态工作点对放大电路输出波形的影响;
二、实验设备
直流稳压电源、低频信号发生器、示波器、万用表、毫伏表,实验线路板。
三、注意事项
1.示波器的辉度不要过亮;
2.调节仪器旋钮时,动作不要过快、过猛;
3.用示波器进行定量测量时,注意t/div和V/div的微调旋钮应处于“标准”位置;
4.为防止外界干扰,各种仪表的接地端要相连(共地)。
四、实验内容
1.连接电路
元器件参数表
编号
VT
RP
Rb1
Rb2
C1
RC
Re
C2
Ce
RL
参数
3DG6
100K
20K
20K
10μF
2.4K
1K
10μF
50μF
2.4K
2.测量静态工作点
令输入电压ui为零。
1接通直流稳压电源,调节电阻Rp,用直流电压表测UCE的值,使UCE=4~5V。
2用直流电压表测此时UC、UB、UE的值,填入表1中。
表1
测量值
计算值
UC(V)
UB(V)
UE(V)
UBE(V)
UCE(V)
3.测量电压放大倍数
1在放大电路的输入端输入频率为1kHz的正弦波信号。
2逐渐增大输入信号的幅度,用示波器观察输入、输出信号的波形,在输出波形最大不失真的情况下,用交流毫伏表测量不同负载电阻的输入电压ui和输出电压uo的有效值,填入表2中。
表2
测试条件
测量值
计算值
RL
UI
UO
Au
2.4K
∞
4.观察输入和输出波形的相位关系
•在输出波形最大不失真的情况下,用双踪示波器测试输入、输出信号的波形,填入表3中。
表3
输入波形
输出波形
相位关系
5.观察静态工作点对输出波形的影响
1在输出波形最大不失真的情况下,用示波器测试输出信号的波形,填入表4中。
2把RP调至最大,用示波器测试输出信号的波形,填入表4中。
3把RP调至最小,用示波器测试输出信号的波形,填入表4中。
表4
测试条件
输出波形
失真性质
最大不失真
RP调至最大
RP调至最小
五、实验分析
1.负载电阻对放大倍数的影响。
2.放大电路要不失真放大,你认为静态工作点UCE的值为多大较合适?
3.如果放大电路的静态工作点合适,而输出波形产生双向失真,是什么原因?
三端集成稳压电源实验
实验组号____学号姓名
实验日期成绩_______指导教师签名
一、实验目的
1.观察并测试整流电路的波形和输出电压。
2.观察并测试整流滤波电路的波形和输出电压。
3.观察并测试三端集成稳压器构成的稳压电源的波形和输出电压。
4.测试三端集成稳压器构成的稳压电源的稳压性能指标。
二、实验设备
示波器、直流电压表、直流电流表、电子技术实验箱。
三、注意事项
✧改接电路时,要切断电源;
✧整流桥不能接错;
✧集成稳压器的输入端与输出端不能反接,以防损坏集成稳压器;
✧集成稳压器的输入端不能短路;公共端要可靠接地。
四、实验内容
1.整流电路的测试
按图
(1)接线,用示波器观察u2和uA的波形,并用直流电压表测试负载两端的电压UA,将观察到的波形和测试数据记入表1中。
图
(1)
表1
u2波形
uA波形
UA(V)
测试值
理论值
2.整流滤波电路的测试
按图
(2)接线,用示波器观察u2和uB的波形,并用直流电压表测试负载两端的电压UB,将观察到的波形和测试数据记入表2中。
图
(2)
表2
u2波形
uB波形
UB(V)
测试值
理论值
3.稳压电源的测试
(1)输出电压的测试
按图(3)接线,用示波器观察u2,UI和UO的波形,用直流电压表测试负载两端的电压UO,将观察到的波形和测试数据记入表3中。
图(3)
(2)稳压系数S的测试
1)按图(3)接线,变压器的次级输出电压为14V,用直流电压表测试UI和UO的电压,将测试数据记入表4中。
2)切断电源,将图(3)中的变压器改接为220V/10V输出(模拟交流电网的波动),然后再接通电源,用直流电压表测试UI和UO的电压,将测试数据记入表4中,并根据所测数据计算稳压电路的稳压系数S。
表3
u2波形
UI波形
UO波形
UO(V)
测试值
理论值
表4
u2(V)
测试值
计算值
UI(V)
UO(V)
14
10
(3)稳压电源的输出电阻测试
1)按图(3)接线,用直流电流表测试负载的电流IO,将测试数据记入表5中。
2)切断电源,将图(3)中的负载改接为240Ω,然后再接通电源,用直流电流表测试此时的负载电流IO,将测试数据记入表5中,并根据所测数据计算稳压电源的输出电阻RO。
表5
RL
测试值
计算值
UO(V)
IO
120Ω
240Ω
五、实验分析
1.根据实验数据分析总结整流、滤波电路的特点。
2.根据实验数据分析总结稳压电路的作用。
3.分析实验中遇到的问题和解决办法。
逻辑门电路实验
实验组号____学号姓名
实验日期成绩_______指导教师签名
一、实验目的
1.学会逻辑门的逻辑功能测试;
2.学会与非门的参数测试。
二、实验设备
万用表,直流电压表,数字电路实验箱,74LS08,74LS32,74LS04,74LS00,74LS86芯片,导线若干。
◆芯片引脚图
三、注意事项:
1.接插芯片时,要认清定位标记,不得插反。
2.TTL门对电源电压的稳定性要求较严,只允许在+5V上下10%的波动。
电源电压超过+5.5V时,易使器件损坏;低于4.5V时,易导致器件的逻辑功能不正常。
电源极性绝对不允许接错。
3.TTL与非门不用的输入端允许悬空,但最好接高电平。
4.TTL门的输出端不允许直接接电源电压或地,也不能并联使用。
四、实验内容
1.门电路的功能测试
(1)与门的功能测试
按图
(1)接线,输入端A、B分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表1中,分析与门的逻辑功能。
图
(1)
表1
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
逻辑功能:
(2)或门的功能测试
按图
(2)接线,输入端A、B分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表2中,分析或门的逻辑功能。
图
(2)
表2
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
逻辑功能:
(3)非门的功能测试
按图(3)接线,输入端A接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值,测出相应的输出值,将测试数据记入表3中,分析非门的逻辑功能。
图(3)
表3
输入
输出
A
Y
0
1
逻辑功能:
(4)与非门的功能测试
按图(4)接线,输入端A、B分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表4中,分析与非门的逻辑功能。
图(4)
表4
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
逻辑功能:
(5)异或门的功能测试
按图(5)接线,输入端A、B分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表5中,分析与非门的逻辑功能。
图(5)
表5
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
逻辑功能:
2.与非门的参数测试
(1)与非门的输出高、低电平测试
图(6)
1)按图(6)接线,调节Rw,使V1的读数为0.3V,测量此时的输出电压V2,将测量数据记入表6中;
2)调节Rw,使V1的读数为3.6V,测量此时的输出电压V2,将测量数据记入表6中。
表6
V1(V)
V2(V)
0.3
3.6
五、实验分析
1.根据测试数据说明与非门的输出高、低电平是多少?
2.分析实验过程中出现的问题。
组合逻辑电路实验
实验组号____学号姓名
实验日期成绩_______指导教师签名
一、实验目的
3.学会逻辑门的逻辑功能测试;
4.学会组合逻辑电路的逻辑功能测试。
二、实验设备
数字电路实验箱,74LS00,74LS20,74LS86芯片,导线若干。
◆芯片引线图
三、注意事项:
✧接插芯片时,要认清定位标记,不得插反。
✧TTL门对电源电压的稳定性要求较严,只允许在+5V上下10%的波动。
电源电压超过+5.5V时,易使器件损坏;低于4.5V时,易导致器件的逻辑功能不正常。
电源极性绝对不允许接错。
✧TTL与非门不用的输入端允许悬空,但最好接高电平。
✧TTL门的输出端不允许直接接电源电压或地,也不能并联使用。
四、实验内容
1.门电路的功能测试
(1)与非门的功能测试
按图
(1)接线,输入端A、B分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表1中,分析与非门的逻辑功能。
图
(1)
表1
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
逻辑功能:
(2)异或门的功能测试
按图
(2)接线,输入端A、B分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表2中,分析与非门的逻辑功能。
图
(2)
表2
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
1
1
0
1
1
逻辑功能:
2.组合逻辑电路的功能测试
(1)按图(3)接线,输入端A、B、C分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表3中,分析电路的逻辑功能。
图(3)
表3
输入
输出
A
B
C
Y
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
逻辑功能:
(2)按图(4)接线,输入端A、B、C分别接0、1逻辑开关,输出端Y接0、1LED显示器,给芯片接上5V的工作电源,改变输入的取值组合,测出相应的输出值,将测试数据记入表4中,分析电路的逻辑功能。
图(4)
表(4)
输入
输出
A
B
C
Y
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
逻辑功能:
五、实验分析
1.与非门不用的输入端如何处理?
2.分析实验过程中出现的问题。
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- 电子技术 实验 半导体器件 测试