传感器原理课程设计.docx
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传感器原理课程设计
HUBEINORMALUNIVERSITY
《传感器原理与应用》
实验报告
学生姓名
徐泽敏
学号
2013115040428
指导教师
洪家平
专业与班级
物联网工程1304班
完成时间
2015年6月9日
湖北师范学院计算机科学与技术学院
目录
实验一Pt100铂电阻测温特性实验3
二、基本原理:
利用霍尔效应表达式:
UH=KHIB,当被测圆盘上装上N只磁性体时,圆盘每转一周磁场就变化N次。
每转一周霍尔电势就同频率相应变化,输出电势通过放大、整形和计数电路就可以测量被测旋转物的转速。
6
三、需用器件与单元:
主机箱、霍尔转速传感器、转动源。
6
四、实验步骤:
6
实验三光电转速传感器测速实验8
二、基本原理:
光电式转速传感器有反射型和透射型二种,本实验装置是透射型的(光电断续器),传感器端部二内侧分别装有发光管和光电管,发光管发出的光源透过转盘上通孔后由光电管接收转换成电信号,由于转盘上有均匀间隔的6个孔,转动时将获得与转速有关的脉冲数,将脉冲计数处理即可得到转速值。
8
三、需用器件与单元:
主机箱、转动源、光电转速传感器—光电断续器(已装在转动源上)。
8
四、实验步骤:
8
五、思考题:
9
实验四金属箔式应变片――单臂电桥性能实验10
四、实验步骤:
11
五、思考题:
12
1.单臂电桥时,作为桥臂电阻应变片应选用:
(1)正(受拉)应变片
(2)负(受压)应变片(3)正、负应变片均可以。
12
实验五金属箔式应变片—半桥性能实验13
一、实验目的:
比较半桥与单臂电桥的不同性能、了解其特点。
13
二、基本原理:
不同受力方向的两只应变片接入电桥作为邻边,电桥输出灵敏度提高,非线性得到改善。
当应变片阻值和应变量相同时,其桥路输出电压UO2=EKε/2。
13
三、需用器件与单元:
主机箱、应变式传感器实验模板、托盘、砝码。
13
四、实验步骤:
13
实验六:
温度传感实验16
实验一Pt100铂电阻测温特性实验
小组成员:
徐泽敏、杜佳圆、叶新义、丁小宇
一.实验目的:
了解铂热电阻的特性与应用。
二.基本原理:
利用导体电阻随温度变化的特性,可以制成热电阻,要求其材料电阻温度系数大,稳定性好,电阻率高,电阻与温度之间最好有线性关系。
常用的热电阻有铂电阻(650℃以内)和铜电阻(150℃以内)。
铂电阻是将0.05~0.07mm的铂丝绕在线圈骨架上封装在玻璃或陶瓷管等保护管内构成。
在0-650℃以内,它的电阻Rt与温度t的关系为:
Rt=Ro(1+At+Bt2),式中:
Ro系温度为0℃时的电阻值(本实验的铂电阻Ro=100Ω)。
A=3.9684×10-3/℃,B=-5.847×10-7/℃2。
铂电阻一般是三线制,其中一端接一根引线另一端接二根引线,主要为远距离测量消除引线电阻对桥臂的影响(近距离可用二线制,导线电阻忽略不计。
)。
实际测量时将铂电阻随温度变化的阻值通过电桥转换成电压的变化量输出,再经放大器放大后直接用电压表显示。
三.需要器件与单元:
主机箱、温度源、Pt100热电阻(二支)、温度传感器实验模板、万用表(自备)。
温度传感器实验模板简介:
图中的温度传感器实验模板是由三运放组成的差动放大电路、调零电路、ab传感器符号、传感器信号转换电路(电桥)及放大器工作电源引入插孔构成;其中RW2为放大器的增益电位器,RW3为放大器电平移动电位器;ab传感器符号<接热电偶(K热电偶或E热电偶),双圈符号接AD590集成温度传感器,Rt接热电阻(Pt100铂电阻或Cu50铜电阻)。
具体接线看下图。
四、实验步骤:
1)用万用表欧姆档测出Pt100三根线中其中短接的二根线(同种颜色的线)设为1、2,另一根设为3,并测出它在室温时的大致电阻值。
2)在主机箱总电源、调节仪电源都关闭的状态下,再根据图28A示意图接线,温度传感器实验模板中a、b(Rt)两端接传感器,这样传感器(Rt)与R3、R1、Rw1、R4组成直流电桥,是一种单臂电桥工作形式。
3)放大器调零:
将图28A中的温度传感器实验模板的放大器的两输入端引线(一根传感器引线、另一根桥路输出即Rw1活动触点输出)暂时不要引入,而用导线直接将放大器的两输入端相连(短接);将主机箱上的电压表量程(显示选择)切换开关打到2V档,合上主机箱电源开关,调节温度传感器实验模板中的RW2(逆时针转到底)增益电位器,使放大器增益最小;再调节RW3(调零电位器)使主机箱的电压表显示为0。
4)将主机箱上的转速调节旋钮(2—24V)顺时针转到底(24V),合上温度源电源开关和调节仪电源开关,将调节仪控制方式(控制对象)开关按到内(温度)位置;在常温基础上,可按Δt=5℃增加温度并且小于160℃范围内设定温度源温度值(设定方法参阅实验二十七,重复6、7、8、9步骤),待温度源温度动态平衡时读取主机箱电压表的显示值并填入下表
5)根据表28A数据值画出实验曲线并计算其非线性误差。
实验结束,关闭所有电源。
由图可知,绝对误差的最大值△u=2.97mv,σ=△=u/u(FS)*100%=2.97、37.6*100%=7.90%
5.实验小结
在做实验室,先要搞清楚实验原理,Pt100热电阻在0摄氏度是是100欧姆,但在室温时,温度会有些上升(根据公式)。
所以在测量时,要明确电阻的范围。
实验室很多pt100是坏的。
实验没有测得正常的数据
实验二霍尔测速实验
小组成员:
徐泽敏、杜佳圆、叶新义、丁小宇
一、实验目的:
了解霍尔转速传感器的应用。
二、基本原理:
利用霍尔效应表达式:
UH=KHIB,当被测圆盘上装上N只磁性体时,圆盘每转一周磁场就变化N次。
每转一周霍尔电势就同频率相应变化,输出电势通过放大、整形和计数电路就可以测量被测旋转物的转速。
三、需用器件与单元:
主机箱、霍尔转速传感器、转动源。
四、实验步骤:
1、根据图16将霍尔转速传感器安装于霍尔架上,传感器的端面对准转盘上的磁钢并调节升降杆使传感器端面与磁钢之间的间隙大约为2~3mm。
2、首先在接线以前,合上主机箱电源开关,将主机箱中的转速调节电源2—24v旋钮调到最小(逆时针方向转到底)后接入电压表(显示选择打到20v档)监测大约为1.25V;然后关闭主机箱电源,将霍尔转速传感器、转动电源按图所示分别接到主机箱的相应电源和频率/转速表(转速档)的Fin上。
3、合上主机箱电源开关,在小于12V范围内(电压表监测)调节主机箱的转速调节电源(调节电压改变电机电枢电压),观察电机转动及转速表的显示情况。
4、从2V开始记录每增加1V相应电机转速的数据(待电机转速比较稳定后读取数据);画出电机的v—n(电机电枢电压与电机转速的关系)特性曲线。
实验完毕,关闭电源。
五、思考题:
1.利用霍尔元件测转速,在测量上有否限制?
答:
有限制。
测量速度不能过慢,因为磁感应强度发生变化的周期过长,大于读取脉冲信号的电路的工作周期,就会导致计数错误。
2.本实验装置上用了六只磁钢,能否用一只磁钢?
答:
如果霍尔是单级的,可以用一只磁钢,但可靠性和精度会差一些;如果霍尔是双极的,那么必须要有一组分别是n/s极的磁钢去开启关断它,那么至少有两只磁钢。
实验三光电转速传感器测速实验
小组成员:
徐泽敏、杜佳圆、叶新义、丁小宇
一、实验目的:
了解光电转速传感器测量转速的原理及方法。
二、基本原理:
光电式转速传感器有反射型和透射型二种,本实验装置是透射型的(光电断续器),传感器端部二内侧分别装有发光管和光电管,发光管发出的光源透过转盘上通孔后由光电管接收转换成电信号,由于转盘上有均匀间隔的6个孔,转动时将获得与转速有关的脉冲数,将脉冲计数处理即可得到转速值。
三、需用器件与单元:
主机箱、转动源、光电转速传感器—光电断续器(已装在转动源上)。
四、实验步骤:
1、将主机箱中的转速调节2-24V旋钮旋到最小(逆时针旋到底)并接上电压表;再按图25所示接线,将主机箱中频率/转速表的切换开关切换到转速处。
2、检查接线无误后,合上主机箱电源开关,在小于12V范围内(电压表监测)调节主机箱的转速调节电源(调节电压改变电机电枢电压),观察电机转动及转速表的显示情况。
3、从2V开始记录每增加1V相应电机转速的数据(待转速表显示比较稳定后读取数据);画出电机的
v—n(电机电枢电压与电机转速的关系)特性曲线。
根据表24数据画出实验曲线。
实验完毕,关闭电源。
五、思考题:
已进行的实验中用了多种传感器测量转速,试分析比较一下哪种方法最简单、方便。
答:
光电转速传感器最方便,因为它无需用霍尔元件靠近转盘来测速。
实验四金属箔式应变片――单臂电桥性能实验
小组成员:
徐泽敏、杜佳圆、叶新义、丁小宇
1、实验目的:
了解金属箔式应变片的应变效应,单臂电桥工作原理和性能。
2、基本原理:
电阻丝在外力作用下发生机械变形时,其电阻值发生变化,这就是电阻应变效应,描述电阻应变效应的关系式为:
ΔR/R=Kε式中:
ΔR/R为电阻丝电阻相对变化,K为应变灵敏系数,ε=ΔL/L为电阻丝长度相对变化。
金属箔式应变片就是通过光刻、腐蚀等工艺制成的应变敏感元件,通过它转换被测部位受力状态变化。
电桥的作用完成电阻到电压的比例变化,电桥的输出电压反映了相应的受力状态。
对单臂电桥输出电压Uo1=EKε/4。
三、需用器件与单元:
主机箱(±4V、±15V、电压表)、应变式传感器实验模板、托盘、砝码、4
位数显万用表(自备)。
图1应变片单臂电桥性能实验安装、接线示意图
四、实验步骤:
应变传感器实验模板说明:
实验模板中的R1、R2、R3、R4为应变片,没有文字标记的5个电阻符号下面是空的,其中4个组成电桥模型是为实验者组成电桥方便而设,图中的粗黑曲线表示连接线。
1、根据图1〔应变式传感器(电子秤传感器)已装于应变传感器模板上。
传感器中4片应变片和加热电阻已连接在实验模板左上方的R1、R2、R3、R4和加热器上。
传感器左下角应变片为R1;右下角为R2;右上角为R3;左上角为R4。
当传感器托盘支点受压时,R1、R3阻值增加,R2、R4阻值减小,可用四位半数显万用进行测量判别。
常态时应变片阻值为350Ω,加热丝电阻值为50Ω左右。
〕安装接线。
2、放大器输出调零:
将图1实验模板上放大器的两输入端口引线暂时脱开,再用导线将两输入端短接(Vi=0);调节放大器的增益电位器RW3大约到中间位置(先逆时针旋到底,再顺时针旋转2圈);将主机箱电压表的量程切换开关打到2V档,合上主机箱电源开关;调节实验模板放大器的调零电位器RW4,使电压表显示为零。
3、应变片单臂电桥实验:
拆去放大器输入端口的短接线,将暂时脱开的引线复原(见图1接线图)。
调节实验模板上的桥路平衡电位器RW1,使主机箱电压表显示为零;在应变传感器的托盘上放置一只砝码,读取数显表数值,依次增加砝码和读取相应的数显表值,直到200g(或500g)砝码加完。
记下实验结果填入表,画出实验曲线。
4、根据表1计算系统灵敏度S=ΔU/ΔW(ΔU输出电压变化量,ΔW重量变化量)和非线性误差¦Ä,
¦Ä=Δm/yFS×100%式中Δm为输出值(多次测量时为平均值)与拟合直线的最大偏差:
yFS满量程输出平均值,此处为200g(或500g)。
实验完毕,关闭电源。
解:
S=200/47=4.225δf1=Δm/yFS×100%=2/200×100%=1%
五、思考题:
1.单臂电桥时,作为桥臂电阻应变片应选用:
(1)正(受拉)应变片
(2)负(受压)应变片(3)正、负应变片均可以。
答:
应选用正应变片
实验五金属箔式应变片—半桥性能实验
小组成员:
徐泽敏、杜佳圆、叶新义、丁小宇
1、实验目的:
比较半桥与单臂电桥的不同性能、了解其特点。
二、基本原理:
不同受力方向的两只应变片接入电桥作为邻边,电桥输出灵敏度提高,非线性得到改善。
当应变片阻值和应变量相同时,其桥路输出电压UO2=EKε/2。
三、需用器件与单元:
主机箱、应变式传感器实验模板、托盘、砝码。
四、实验步骤:
1、将托盘安装到应变传感器的托盘支点上。
将实验模板差动放大器调零:
用导线将实验模板上的±15v、⊥插口与主机箱电源±15v、⊥分别相连,再将实验模板中的放大器的两输入口短接(Vi=0);调节放大器的增益电位器RW3大约到中间位置(先逆时针旋到底,再顺时针旋转2圈);将主机箱电压表的量程切换开关打到2V档,合上主机箱电源开关;调节实验模板放大器的调零电位器RW4,使电压表显示为零。
图2应变式传感器半桥接线图
2、拆去放大器输入端口的短接线,根据图2接线。
注意R2应和R3受力状态相反,即将传感器中两片受力相反(一片受拉、一片受压)的电阻应变片作为电桥的相邻边。
调节实验模板上的桥路平衡电位器RW1,使主机箱电压表显示为零;在应变传感器的托盘上放置一只砝码,读取数显表数值,依次增加砝码和读取相应的数显表值,直到200g(或500g)砝码加完。
记下实验数据填入表2画出实验曲线,计算灵敏度S2=U/W,非线性误差δ。
实验完毕,关闭电源。
表2
重量(g)
20
40
60
80
100
120
140
160
180
200
电压(mv)
18.3
34.8
51.5
68.4
85.4
101.6
118
135.1
151.4
167.8
从图中看到曲线起点不是零,所以可能存在没有做到真正调零。
(一)、计算灵敏度:
△V=[(34.8-18.3)+(51.5-34.8)+(68.4-51.5)+(85.4-68.4)+(101.6-85.4)+(118-101.6)+(135.1-118)+(151.4-135.1)+(167.8-151.4)]/9=(167.8-18.3)/9=16.61mv
△W=20g
S=△V/△W=0.831mv/g
(二)、计算非线性误差:
m=(18.3+34.8+51.5+68.4+85.4+101.6+118+135.1+151.4+167.8)/10=93.23mv
y=167.8mv
δ=m/f×100%=55.6%
五、思考题:
1、半桥测量时两片不同受力状态的电阻应变片接入电桥时,应放在:
(1)对边
(2)邻边。
答:
邻边
2、桥路(差动电桥)测量时存在非线性误差,是因为:
(1)电桥测量原理上存在非线性
(2)应变片应变效应是非线性的(3)调零值不是真正为零。
答:
电桥测量原理上存在非线性。
实验六:
温度传感实验
小组成员:
徐泽敏、杜佳圆、叶新义、丁小宇
一、实验目的:
1.熟练掌握proteus,keil等软件的使用
2.了解各接口的作用
3.掌握DS18B20读写时序的编程方法
二、实验器材:
XP虚拟机、keil4、proteus_7.8、惠普ENVYdv4Notebook
三、实验原理:
1)本实验通过DS18B20采集环境温度,当单片机检测到DSl820的存在便可以发出ROM操作命令,然后存储器操作命令对DS18B20进行读写数据、转换等操作。
单片机使用时间隙(timeslots)来读写DSl820的数据位和写命令字的位,然后将读到的数据转换为BCD码在数码管显示出来,于是我们就可以在数码管上读取环境的温度了。
2)DS18B20的主要特性
1.1、适应电压范围更宽,电压范围:
3.0~5.5V,在寄生电源方式下可由数据线供电
1.2、独特的单线接口方式,DS18B20在与微处理器连接时仅需要一条口线即可实现微处理器与DS18B20的双向通讯
1.3、DS18B20支持多点组网功能,多个DS18B20可以并联在唯一的三线上,实现组网多点测温
1.4、DS18B20在使用中不需要任何外围元件,全部传感元件及转换电路集成在形如一只三极管的集成电路内
1.5、温范围-55℃~+125℃,在-10~+85℃时精度为¡À0.5℃
1.6、可编程的分辨率为9~12位,对应的可分辨温度分别为0.5℃、0.25℃、0.125℃和0.0625℃,可实现高精度测温
1.7、在9位分辨率时最多在93.75ms内把温度转换为数字,12位分辨率时最多在750ms内把温度值转换为数字,速度更快
1.8、测量结果直接输出数字温度信号,以"一线总线"串行传送给CPU,同时可传送CRC校验码,具有极强的抗干扰纠错能力
1.9、负压特性:
电源极性接反时,芯片不会因发热而烧毁,但不能正常工作。
3)DS18B20的读写时序和测温原理与DS1820相同,只是得到的温度值的位数因分辨率不同而不同,且温度转换时的延时时间由2s减为750ms。
DS18B20测温原理如图所示。
图中低温度系数晶振的振荡频率受温度影响很小,用于产生固定频率的脉冲信号送给计数器1。
高温度系数晶振随温度变化其振荡率明显改变,所产生的信号作为计数器2的脉冲输入。
计数器1和温度寄存器被预置在-55℃所对应的一个基数值。
计数器1对低温度系数晶振产生的脉冲信号进行减法计数,当计数器1的预置值减到0时,温度寄存器的值将加1,计数器1的预置将重新被装入,计数器1重新开始对低温度系数晶振产生的脉冲信号进行计数,如此循环直到计数器2计数到0时,停止温度寄存器值的累加,此时温度寄存器中的数值即为所测温度。
图中的斜率累加器用于补偿和修正测温过程中的非线性,其输出用于修正计数器1的预置值。
DS18B20一线总线温度传感器:
工作原理:
本实验通过DS18B20采集环境温度,当单片机检测到DSl820的存在便可以发出ROM操作命令之一,ReadROM(读ROM)MatchROM(匹配ROM)SkipROM(跳过ROM)SearchROM(搜索ROM)Alarmsearch(告警搜索)然后对发存储器操作命令对DS18B20进行读写数据转换等操作。
单片机使用时间隙(timeslots)来读写DSl820的数据位和写命令字的位,然后将读到的数据转换BCD码在数码管显示出来
特点:
1)体积小?
安装方便
2)可联网,方便分散点测量
3)三线∕二线式连接方式
4)测量范围-55℃~+125℃
五、实验过程:
1)打开keil4,创建项目,然后创建文件,输入代码,再保存成.c文件(因为此处我用的是C语言)具体操作可以看第一次实验;
代码:
#include
unsignedcharcodenum[]={0x3F,0x06,0x5B,0x4F,0x66,0x6D,0x7D,0x07,0x7F,0x6F};
unsignedcharcodenum1[]={0xBF,0x86,0xDB,0xCF,0xE6,0xED,0xFD,0x87,0xFF,0xEF};
sbitDQ=P3^7;
bitflag;
delay(unsignedinti)//延时,也可以用for(;i;i--);但对后面的读写温度和初始化的延时不同
{while(i--);
}
voiddisplay(unsignedintt)//显示模块
{P2=0x3E;//S0
P0=0x39;
delay(500);
P2=0x3D;//S1
P0=0x3F;
delay(500);
P2=0x3B;
P0=num[t/10%10];//S2
delay(500);
P2=0x37;
P0=num1[t/100%10]&0xFF;//S3
delay(500);
P2=0x2F;
P0=num[t/1000%10];//S4
delay(500);
P2=0x1F;//S5
if(flag==1)//判断正负温度
P0=0x40;
else
P0=num[t/10000%10];
delay(500);
}
voidinit()//初始化DS18B20
{unsignedchark=0;
loop:
DQ=1;
delay(8);
DQ=0;
delay(80);//延时400us DQ=1; delay(8);//延时15us k=DQ; delay(10);//延时 if(k==1) gotoloop; } readchar()//读DS18B20中的串行数据 {unsignedchari=0; unsignedchardate=0; for(i=8;i;i--) {DQ=0; date>>=1; DQ=1; if(DQ) date|=0x80; delay(5); } return(date); } voidwrite(unsignedchardate)//DS18B20的写指令 {unsignedchari; for(i=8;i;i--) {DQ=0; DQ=date&0x01; delay(5); DQ=1; date>>=1; } } gettemperature()//读取温度 {unsignedcharx=0,y=0; unsignedintt; init(); write(0xcc);//跳过读ROM序列号 write(0x44);//启动温度变换 delay(100); init(); write(0xcc); write(0xbe);//读暂存存储器,即温度 x=readchar();//低八位 y=readchar();//高八位 if(y&0x80) {flag=1; x=~x; y=~y; x=x+1; } elseflag=0; t=(y*256+x)*25; return(t>>2);//扩大100倍 } voidmain(void) {unsignedintget; unsignedcharcounter=1; while (1) { if(counter--==0) {get=gettemperature(); counter=10; } display(get); } } 2)打开protues,画出原理图;如下: 3)双击单片机,再点击文件样式的小图标,将生成的hex文件加载到单片机中(如下图) 4)点击OK完成。 进行仿真模拟 5)此处用实物做这个实验,连接方式如下: 用排线将单片机P0口与开发板上的J12口连接,温度传感芯片DS18B20插入有18B20_P3^7标识的卡槽中,单片机的P2^0,P2^1,P2^2,P2^3,P2^4,P^5分别用跳线与J16的连续六个插口相连。 6)用串口线将单片机与电脑相连,打开普中科技自动下载程序,点击打开文件按钮,找到原来生成的HEX文件双击该文件即完成加载,然后点击下载程序按钮。 如下图: 文件烧录完成后,单片机自动运行。 可以看到显示屏上刚开始是85,然后进行正常地读取温度。 五、实验总结: 在
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