SPC管理规范Word格式文档下载.doc
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平均值与全距管制图(X-R)﹐平均值与标准差管制图(X-σ)﹐中位值与全距管制图(X-R)﹐个别值与全距管制图(X-Rm)
2.1.2计数值管制图:
此类数据均属于以单位计数者如不良数﹐缺点数等间断数据﹐常用者有不良率管制图(P-CHART)﹐不良数管制图(Pn-CHART)﹐缺点数管制图(C-CHART)﹐平均缺点数管制图(U-CHART)。
2.2作业要领说明:
2.2.1X-R管制图
2.2.1.1搜集数据-搜集100个以上的数据,依测定时间顺序,或群体顺序排列。
2.2.1.2这些数据是最近的数据,并且在技术上可认为今后的制程不会有多大
变化。
2.2.1.3数据的履历必须很清楚。
2.2.1.4数据分组—2~6个数据为一组,把全部数据共分为20~30组。
2.2.1.5一组内的数据个数,谓之样本数,以n表示。
2.2.1.6组之个数,谓之组数,以K表示。
2.2.1.7同一组内不要含有异质的数据。
通常是以群体顺序,或测定时间顺序
来分组。
2.2.1.8记入数据表-把数据记入如图表一的数据表里。
2.2.1.9计算平均值X(四舍五入后,比测定值多求一位数),求各组的平均值X。
(n:
为样本大小)
X=
X1+X2+X3+……+X
n
例如图表一的第一组的平均值为:
=49
48+49+48+50+51
5
2.2.1.10计算全距R
求每组的全距R
R=X(最大值)-X(最小值)
如图表一的第一组全距:
R=51-48=3
2.2.1.11计算总平均X(四舍五入后比测定值多求2位数)。
(K=组数)
X1+X2+……+Xk
K
例如图表一:
X=
49+50+50+48+…+50+49+50
25
=49.68
ΣX=1242 X=49.68
ΣR=117 R=4.7
限 界 線
備註
係 數 表
X
A2R=0.577×
4.7=52.39
UCL=X+A2R=52.42
CL=X=49.68
LCL=X-A2R=46.97
n
2
3
4
A2
1.880
1.023
0.279
D4
3.27
2.58
2.28
D3
-
d2
1.13
1.69
2.06
R
UCL=D4R=2.12×
4.7=9.96
CL=R=4.7
LCL=D3R=0
5
0.577
2.12
2.33
2.2.1.12计算全距的平均值R
R=
R1+R2+……+Rk
K
3+4+7+6+……+8+6+3+4
25
2.2.1.13计算管制界限
X管制图:
中心线 CL=X
上管制界限 UCL=X+A2R
下管制界限 LCL=X-A2R
(A2为系数,可由查表得)
因n=5,故查表得A2=0.577
CL=X=49.71
UCL=X+A2R=52.42
LCL=X-A2R=47.00
2.1.1.14R管制图
中心线 CL=R
上管制界限 UCL=D4R
下管制界限 LCL=D3R
(D4,D3为系数,可由查表得)
因n=5,故查表得D4=2.12,D3=0
CL=R=4.7
UCL=D4R=9.96
LCL=D3R(因n<6,故不考虑)
2.2.1.15记入管制界限
准备管制图用纸,绘上恩分度使上下管制界限之监能在20~30㎜左右。
X管制图时 R管制图时
中心线记入实线 中心线R记入实线
UCLX,LCLX各别记入虚线 UCLR,LCLR各别记入虚线初期
之管制上下限制订,可从初期制程能力解析引用。
2.2.1.16调查是否在管制状态
把点全部记入管制图上,如果点都在管制界限内时,即认为制程是在管制状态下,如果有超出管制界限外的点时,就判断制程非管制状态,必须进一步做制程解析,追查原因,制定标准,采取去除原因的措施使制程完全进入管制状态,点在管制界限上时,亦视同超出界外的点。
预备数据调查结果,如果制程在管制状态时,就不必重新算,而把图表一所求
得的管制界限,直与规格比较。
2.3P管制图
2.3.1搜集数据
先预测制程不良率,然后抽取平均约含有1~5个不良品大小的样本n,大约
20~25组,加以测定。
最好能抽取同样大小的样本。
假如预测不良率大约为P
则Pn(不良数)=1~5
(n=各组样本数)
n=
~
15
P P
例如预测不良率大约为0.05
则样本大小n可定为
=20~100
1 5
0.05 0.05
2.3.2计算不良率P
P=
(
Pn Pn=样本之不良个数
n n=样本大小 )
2.3.3计入管制图用纸
准备好管制图用纸,把4.2.1.12所求得P值记入管制图上。
2.3.4计算平均不良率P
P=
ΣPn 不良个数的总合
ΣP 检验个数的总合
2.3.5计算管制线
中心线 CL=P P(1-P)
上管制界限UCL=P+3 n
P(1-P)
下管制界限LCL=P-3n
2.3.6计入管制线
中心线计入实线,UCL,LCL计入虚线
2.3.7调查是否在管制状态
计入的点全部在管制界限内时,认为数据的制程是在管制状态。
如果有点超出管制界限时,就判断制程在非管制状态,此时应进一步做制程解析,制定标准追查原因,采取改善措施。
在管制界限上的点,亦作为超出线外的点处理。
2.4U管制图--单位缺点管制图(检查数不必相同)
作业方法及采取调查对策基准,参照P管制图作业要领
※U管制图的使用在于单位缺点率,例:
制品检查50条,发生不良点有70个。
每日检查不良点(C)
=14
U=
70
50
每日检查数(n)
※每月检查资料收集完成后,要算出每月的平均不良缺点率(U)及每月的检查平均数(n)。
每月的总不良缺点数
每月平均不良率U=
每月的检查总数
第一天缺点数 第二天缺点数 第三天缺点数 每月最后一天
C1 + C2 + C3 +……+ Ck
=
n1 + n2 + n3 +……+ nk
第一天检查数 第二天检查数 第三天检查数
每月的检查总数
n=
每月的检查日数
3.SPC管制图异常基准
3.1连续七点往上或往下
3.2连续七点在同侧
3.3超过管制界限
3.4在管制界限上
3.514个连续点上下交替出现。
3.614个连续点上下交替出现。
3.714个点连续点在±
1δ区。
3.8处理方法:
3.8.1作业停止
3.8.2报告线长、班长、QC
3.8.3未经QC许可作业继续停止
3.9异常发生先期防范措施
3.9.1连续5点上升、下降或出现单侧时,作业员需立即确认作业条件(遇困难无
法解决,报告线长)
3.9.2连续6点上升、下降或出现单侧时,作业员需通知线长或由线长自行发现,
由线长确认作业条件。
3.9.31-4项发生时,依第5项内容作异常处理,发行异常报告书对策之。
3.10管制界限修订:
原则上管制界限使用一段时间后,因制程条件发生变异时得
搜集最进一批数据,重新计算管制界限以修订之。
4.制程能力解析
4.1估计制程标准差(σ)
σ=R/d2
4.2计算制程能力
4.2.1单边规格(上限或下限)
USL-XX-USL
CP= 或
3σ3σ
4.2.2双边规格
USL-LCL
CP=
6σ
4.2.3制程能力指数(Cpk)
USL-X (X-LSL)
Cpk= =
3σ 3σ
4.2.4Cpk=1.00其制程能力为X±
3σ
Cpk=1.33其制程能力为X±
4σ
4.3制程能力评价
4.3.1评价基准
Cap允收标准
取消SPC
Ppk
Cpk
管制依据
作 法
≧1.67
≧1.33
原则连续3张
(3×
30工作天)
Cap≧2.00
提列实绩经客户SQA同意后取消之更换适当之其它管制方式
4.3.2制程能力不足(无法达到允收基准)时,需立即采取有效对策。
(以TEAM WORK方式)
暂定对策:
保证交货品质。
恒久对策:
提升Cpk值符合要求。
4.3.3统计技术应用参见《统计技术与数据分析过程控制程序》,APQP参见《产品质
量先期策划过程控制程序》。
5.附件及记录
5.1[CPK分析计划]
5.2[X-R管制图]
6.相关文件
6.1《统计技术与数据分析过程控制程序》
6.2《产品质量先期策划过程控制程序》
公司名称:
苏州新区亚明塑胶有限公司
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