光谱分析复习和思考题Word下载.docx
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K—Boltzmann常数;
T—温度/K;
Ai—为跃迁几率;
υi—为发射谱线的频率。
主要影响因素为统计权重、跃迁几率;
激发电位、激发温度;
电离度、蒸发速率常数、逸出速率常数。
(2)谱线自吸:
某元素发射出的特征光由光源中心向外辐射过程中,会被处于光源边缘部分的低能级的同种原子所吸收,使谱线中心发射强度减弱,这种现象叫自吸。
(3)自蚀:
在自吸严重情况下,会使谱线中心强度减弱很多,使表现为一条的谱线变成双线形状,这种严重的自吸称自蚀。
3、解释下列名词:
(1)激发电位和电离电位。
激发电位:
低能态电子被激发到高能态时所需要的能量。
电离电位:
每个气体化合物被离子化的能量称为电离电位。
(2)共振线、原子线、离子线、灵敏线、最后线。
共振线:
由激发态直接跃迁至基态时辐射的谱线称为共振线。
原子线:
原子核外激发态电子跃迁回基态所发射出的谱线。
M*M
离子线:
离子核外激发态电子跃迁回基态所发射出的谱线。
M+*M+
;
M2+*M2+
灵敏线:
由第一激发态直接跃迁至基态的谱线称为第一共振线L1。
第一共振线一般也是元素的最灵敏线L1。
最后线:
当该元素在被测物质里降低到一定含量时,出现的最后一条谱线,这是最后线L1。
4、摄谱仪的类型及分光原理
摄谱仪的类型有棱镜摄谱仪和光栅摄谱仪。
棱镜摄谱仪分光原理:
利用光的折射原理进行分光。
光栅摄谱仪分光原理:
利用光的衍射现象进行分光。
5、内标法定量分析的基本公式
logR=log(I分/I内)=blogC+logA
三、原子吸收和原子荧光光谱
1、原子吸收光谱和原子荧光光谱是如何产生的?
(1)原子吸收光谱:
当光源发射出的具有待测元素特征光辐射的光通过样品蒸气时,被蒸气中待测元素基态原子所吸收,从而由辐射特征谱线强度的减弱程度来测量样品中待测元素含量的方法。
(2)原子荧光光谱:
气态自由原子吸收特征辐射后跃迁到较高能级,然后又跃迁回到基态或较低能级。
同时发射出与原激发辐射波长相同或不同的辐射即原子荧光。
原子荧光为光致发光,二次发光。
2、解释下列名词:
⑴谱线轮廓;
⑵积分吸收;
⑶峰值吸收;
⑷锐线光源。
(1)谱线轮廓:
当频率为
时,透射光强度最小,吸收最大,即原子蒸发在特征频率
时有吸收线,此外,透射光强度与吸收系数
及原子蒸气宽度L有关。
当燃烧器的缝长一定时,L为一定值,而吸收系数
随入射光的频率
而变化,但吸收线并不是只有单一波长的非常细的谱线,而是具有一定的宽度,通常称为吸收线的轮廓。
(2)积分吸收:
在原子吸收光谱分析中,原子蒸气所吸收的全部能量。
公式:
(3)峰值吸收:
原子蒸汽在谱线中心频率时的能量吸收值。
(4)锐线光源:
与待测元素相同的纯金属或化合物制成的空心阴极灯。
发射光的中心频率等于吸收光的中心频率,且发射光的半宽度远远小于吸收光的半宽度。
3、表征谱线轮廓的物理量有哪些?
引起谱线变宽的主要因素有哪些?
表征谱线轮廓的物理量有:
(1)谱线中心频率0:
吸收系数极大值时的频率。
(2)峰值吸收系数K0:
吸收系数的极大值。
(3)谱线半宽度:
吸收系数等于极大值的一半(K0/2)时,吸收线上两点间的距离。
引起谱线变宽的主要因素有:
多普勤变宽和压力变宽(碰撞变宽)。
4、原子吸收光谱仪与原子荧光光谱仪有何不同?
荧光仪与原子吸收仪相似,但光源与其他部件不在一条直线上,而是900直角,为避免激发光源发射的辐射对原子荧光检测信号的影响。
分析方法
原子吸收光谱仪
原子荧光光谱仪
组成
空心阴极灯、原子化器、单色器、检测器、处理与控制
空心阴极灯、原子化器、单色器、检测器、处理与控制,但光源与其他部件不在一条直线上,而是90°
直角
样品
液体(固体样品配制溶液),分析时为原子蒸气
样品分析时为原子蒸气
基本分析项目与应用
元素定量分析(可测几乎所有金属和B、Si、Se、Te等半金属元素约70种)
元素定量分析(可测元素近40种)
应用特点
灵敏度高(特别适用于元素微量和超微量分析),准确度较高;
不能作定性分析,不便于作单元素测定;
仪器设备简单,操作方便,分析速度快。
灵敏度高;
可采用非色散简单仪器;
能同时进行多元素测定;
痕量分析新方法;
不如AES、AAS应用广泛。
5、标准加入法定量分析中,工作曲线的横纵坐标分别是什么?
操作过程:
(1)取至少四份体积相同的样品溶液,从第二份开始分别按比例加入不同量Cs的待测元素的标准溶液,稀释一定体积。
(2)加入标准溶液后样液的浓度分别为Cx、Cx+C0、Cx+2C0、Cx+4C0,分别测得吸光度,以A对Cs作图。
其中A为吸光度,Cs为待测元素的浓度
(3)延长直线A-CS,与横坐标的交点即为待测元素质量分数。
当A=0时,Cs=-Cx
即,Cx=-Cs
6、三种原子光谱的相互联系与区别及各自的应用特点。
应用特点:
原子发射光谱分析:
灵敏度高,准确度较高;
样品用量少(只需几毫克~几十毫克);
可对样品作全元素分析,分析速度快(光电直读光谱仪只需1~2min可测20多种元素)
原子吸收光谱分析:
原子荧光光谱分析:
7、原子吸收光谱法的干扰效应及消除方法。
(1)光谱干扰:
①待测元素自身的吸收线重叠,狭缝较宽时出现同时吸收。
②待测元素分析线与阴极灯内杂质元素的吸收线重叠。
③待测元素分析线与基体中其他元素的吸收线重叠。
④灯内杂质气体或阴极上有氰化物造成的连续背景发射。
消除方法——减小狭缝、用纯度较高的单元素灯、更换其它分析线、更换灯内惰性气体或缩小狭缝。
(2)背景干扰(分子干扰):
火焰吸收、分子吸收与光散射造成光谱背景。
一般使吸收值增加,产生正误差。
校正方法——用非共振吸收线校正背景:
用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度,因非共振线不产生原子吸收,用它来测量背景吸收的吸光度。
两者之差值即为原子收的吸光度。
例:
分析线(nm)非共振线(nm)Ag328.1Ag312.3用连续光源校正背景。
(3)电离干扰:
在高温下原子的电离使基态原子数减少,吸收下降。
消除方法——加入过量消电离剂(是电离电位较低的元素,加入时,产生大量电子,抑制被测元素电离),如:
消电离剂:
K—K++e;
被测元素:
Ca2++2e—Ca。
(4)化学干扰:
共存元素与被测原子发生化学反应生成稳定的化合物,影响被测元素原子化效率,统称化学干扰,是选择性干扰,分不同情况采取不同方法。
消除方法——①选择合适的原子化方法,提高原子化温度,化学干扰会减小,在高温火焰中P043-不干扰钙的测定。
②加入释放剂如:
磷酸盐干扰Ca,当加入La或Sr时,可释放出Ca。
③加入保护剂
如:
EDTA、8—羟基喹啉等,即有强的络合作用,又易于被破坏掉。
④加基体改进剂如:
Al干扰Ti的测定,但当Al大于200g/ml时,测定Ti的吸光度稳定。
⑤分离法:
沉淀分离、萃取分离、离子交换等。
(5)物理干扰:
指试液与标准溶液物理性质的差别而产生的干扰。
溶液的粘度、表面张力或溶液密度等变化,影响样品雾化效率和气溶胶到达火焰的传递等会引起的原子化效率与吸光度的改变。
消除方法—配制被测试样组成相近溶液;
用标准加入法进行定量分析;
浓度高的溶液可用稀释法。
四、紫外光谱
1、紫外可见吸收光谱产生的原理?
紫外可见光谱是电子光谱,是材料吸收10-800nm波长范围的光子所引起分子中电子能级跃迁产生的吸收光谱。
2、什么是生色团和助色团,并分别列举两个例子?
(1)生色团:
是指分子中产生吸收带的不饱和官能团;
吸收带的λmax>210nm,属于π→π*、n→π*等跃迁类型,如C=C、N=O、C=O、C=S等;
生色团吸收带的位置受相邻取代基或溶剂效应的影响,吸收峰会向长波或短波移动。
(2)助色团:
是指分子中的一些带有非成键电子对的基团;
本身在紫外-可见光区不产生吸收,但是当它与生色团连接后,使生色团的吸收带向长波移动,且吸收强度增大。
例如:
-OH、-OR、-NHR、-SH、-Cl、-Br、-I
3、紫外可见吸收光谱有哪些应用,特别是一些特殊的应用,如结构分析和物理化学参数的测定。
定性分析、结构分析、定量分析、物理化学参数的测定:
(分子量、配合物的配合比与稳定参数、酸碱离解常数、化学反应动力学常数等)。
书:
(1)结构定性分析(有机化合物鉴定和结构分析);
(2)(某些)有机化合物构型和构象的测定;
(3)组分定量分析(单一物质,化合物组分,混合物组分含量);
(4)化学和物理数据的测定(氢键强度、化合物相对分子质量测定等)。
主要用于有机化合物微量和常量、组分定量分析;
在有机化合物定性鉴定和结构分析时有一定的局限性,常用于研究不饱和有机化合物,特别是具有共轭体系的有机化合物。
作为重要辅助手段可与IR、NMR等配合进行有机化合物鉴定和结构分析。
4、排出下列化合物的
及
的顺序:
CH3Cl;
CH3Br;
CH3I
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