验收记录表Word文档下载推荐.docx
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透射电子显微镜
规格及型号
JEM-2100F
生产厂家/供应商
日本电子株式会社
验
收
记
录
一、外观情况
设备完好,无任何损坏
二、配件:
场发射透射电子显微镜主机(1套,JEM2100F,日本JEOL)
能谱仪(EDS)(1套,EX-24261M1G5T,日本JEOL)
CCD相机(1套,832ORIUSTMSC1000,美国Gatan)
超声波切片机(1台,Model170,美国FISCHIONE)
圆片打孔机(1台,Model130,美国FISCHIONE)
楔形三脚抛光器(1台,69-42000,美国ALLIED)
样品固定加热台(1台,623.40002,美国Gatan)
带冷台的新型离子减薄仪(1台,MODEL695.C,美国Gatan)
电解双喷减薄仪(1台,TenuPol-5,丹麦司特Struers)
二、说明书等资料情况:
已提供设备使用操作说明书
三、技术指标:
点分辨率:
0.19nm,晶格分辨率:
0.10nm
扫描透射分辨率:
0.20nm,束斑尺寸:
0.5nm
样品漂移:
≤1.0nm/min,放大倍数误差:
≤±
10%
真空度:
优于2x10-5pa,样品倾斜角:
X:
±
25%,Y:
±
25%
验收意见:
验收人:
日期:
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- 特殊限制:
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- 关 键 词:
- 验收 记录
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